Qualità - Strumenti di misura
FISCHERSCOPE® X-RAY - sistema XDL
Il FISCHERSCOPE® X-RAY sistema XDL misura lo spessore di qualsiasi riporto galvanico, determina la proporzione dei costituenti di un riporto in lega oppure analizza i materiali mediante il metodo della fluorescenza da raggi X secondo le norme DIN 50987 e ISO 3497.
La misura non è distruttiva, è rapida ed è eseguibile su una superficie di minima ampiezza.
La voluminosa cella con fessure laterali, il suo dispositivo di misura dall'alto e la grande flessibilità di posizionamento dei pezzi ne rendono estremamente agevole l'impiego. Su un PC separato è installato il software funzionante sotto Windows® 95. Il monitor a colori svolge la doppia funzione di visualizzazione delle misure e dei risultati, e la viusualizzazione del pezzo da misurare. Sono questi gli elementi e le caratteristiche visibili del FISCHERSCOPE® X-RAY sistema XDL.
Il sistema si avvale di un metodo totalmente nuovo per il calcolo degli spessori. Anche in presenza delle sembre più complesse combinazioni attuali, il sistema XDL può essere tarato in modo semplicissimo, addirittura senza campioni di riferimento, indicando previamente la precisione di misura. Il DCM (Distance Controlled Measurement), un metodo ingegnoso, corregge la taratura attraverso il controllo ottico della distanza di misura, semplificando al massimo la misura di pezzi a geometria complessa.
